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Sims分析. 東芝ナノアナリシス株式会社は、ナノ構造解析、表面分析、薄膜物性評価、 fpd・電子部品・材料分析、半導体解析、半導体パッケージ・実装解析、 信頼性・非破壊観察、クリーンルーム・プロセス評価、無機化学分析、有機化学分析、 環境安全化学分析と幅広い分野での受託分析を承ります。. 代表的分析法の原理･特徴 x線光電子分光法 （xps、esca) オージェ電子分光法 （aes) 飛行時間型2次イオン質量分析 （tofsims) 蛍光x線分析法 （xrf) 有機元素分析 誘導結合ﾌﾟﾗｽﾞﾏ発光分光分析 （icpaes) ガスクロマトグラフ質量分析.
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